OminFluo990-DUV超寬禁帶半導體熒光測試 參考價：1
OminFluo990-DUV深紫外超寬禁帶半導體熒光測試系統(tǒng)，基于我司20年左右的第三代半導體表征測試經驗，可以有效地對寬禁帶與超寬禁帶半導體材料例如AlN和...
DSR300-DUV深紫外分光光度檢測系統(tǒng) 參考價：1
DSR300-DUV深紫外分光光度檢測系統(tǒng)，通過193的脈沖激光器或者等離子體光源+單色儀的連續(xù)193光源，對器件的光電流響應進行測量，測量速度約4KHZ，同時...
SPM300 激光共聚焦多模態(tài)半導體參數測試儀 參考價：1
SPM300 激光共聚焦多模態(tài)半導體參數測試儀，
zolix|全晶圓半導體參數非接觸測試解決方案 參考價：面議
zolix|全晶圓半導體參數非接觸測試解決方案，基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術，聯(lián)合白光干涉...
光學參數檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價：面議
光學參數檢測：寬場熒光顯微成像模組以自動化顯微鏡模組為基礎，針對 SiC 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
自動化顯微成像模組-半導體缺陷檢測 參考價：面議
自動化顯微成像模組-半導體缺陷檢測，針對半導體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環(huán)節(jié)自動化視覺檢測需求。
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